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Otsuka大塚電子的晶圓膜厚儀采用分光干涉法進(jìn)行非接觸、無(wú)損測(cè)量，適用于硅...

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Otsuka大塚電子進(jìn)口顯微分光膜厚儀 OPTM-A1A2A3替代橢偏儀

Otsuka大塚 該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)...

Otsuka大塚紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New產(chǎn)品信息 特征 該檢測(cè)器 是一種高性...

Otsuka大塚 該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)...

總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管...

產(chǎn)品信息 特殊長(zhǎng)度 可以測(cè)量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)...

特點(diǎn)： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的...

產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號(hào)同步 通過(guò)光纖的自由的測(cè)試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)*短2m...